Op 20 oktober 2015 17:03:01 schreef Lambiek:
Nou daar denk ik dus het mijne over, die zijn wel degelijk van belang.
Dat noem ik niet denken dan... In elk geval heb ik niets tegen denken, maar als je nu zou zeggen dat je MOSFETs en masse overlijden zonder zeners is het wat waard om de verklaring te zoeken, anders kan je vaak heel goed zonder. BJTs zijn een ander verhaal, daar zijn de structuren waar de avalanche zich concentreert kleiner.
Op 20 oktober 2015 17:12:22 schreef Lambiek:
Heb je het artikel nog nooit door gelezen GJ? Schaam je.
http://www.circuitsonline.net/artikelen/view/41
In dit artikel wordt de structuur van een kleinsignaal-MOSFET gegeven, en geeft geen goed beeld over de veldspanningen die bij een hoge drainspanning optreden. Hier gaat het oxide van de gate stuk bij een te grote drainspanning. Dit is de doorsnede van een vermogensMOSFET. Daar kan je zien dat de veldspanningen bij hoge drainspanningen zich concentreren op de grens van de p+ laag en de n- bulk van de die.
Op 20 oktober 2015 18:12:26 schreef SparkyGSX:
Ik had voor deze oplossing gekozen omdat de avalanche breakdown vaak een lokaal fenomeen is, terwijl de energie nu meer gelijkmatig over het hele oppervlak wordt verdeeld; dat was tenminste het idee, ik heb natuurlijk niet de spullen om vast te kunnen stellen of het nu beter gaat.
Eerlijk is eerlijk: ik ook niet. Zullen wel niet heel simpele dingen zijn. In essentie gebruik je de MOSFET nu in het lineaire gebied door hem deels open te sturen. Dat kan, maar in het lineaire gebied krijg je last van second breakdown omdat een MOSFET daar een negatieve temperatuurscoëfficient heeft en daardoor de warmteproductie zal proberen te concentreren op het warmste stukje MOSFET. De inductieve energie is dus ook hier aan een maximum gebonden. Avalanche is een lokaal effect, maar de ladingsdragers die worden gegenereerd zijn mobieler dan warmte en kunnen geleiding veroorzaken in een groter deel van de die. Anders zou een avalanchediode immers ook heel onbetrouwbaar zijn. In elk geval doe je niets aan het lokaal zijn van het fenomeen door van avalanche naar het lineaire gebied te gaan. Bovendien zei ik al: fabrikanten geven een getal voor avalanche energie in de datasheet! Deze statistiek is om deze reden toegevoegd.
@Kruimel: je snapt het idee blijkbaar niet helemaal; de FET gaat niet eerst dicht en dan weer open, als er geen alternatief stroompad is (omdat de secundaire wikkeling open is), stijgt de spanning niet verder omdat de FET een beetje open getrokken wordt (gewoon lineair, dus!), waardoor de dI/dt beperkt wordt, en daarmee dus de spanning. Er is nauwelijks nog een spike te zien boven de zenerspanning, dat heb ik dan wel weer bekeken (gewoon de scope eraan, dus).
Aardig dat je het uitlegt, maar ik had het wel al begrepen hoor. Mijn zorgen waren over een te hoge dU/dt waardoor de spanning op de gate kan stijgen voordat de MOSFET zo ver kan opensturen dat de spanning weer daalt. Dan krijg je hele korte piekjes op je gate die het oxide beschadigen en de betrouwbaarheid op lange termijn verminderen. Dat moet je dus hebben gecontroleerd met een oscilloscoop om te weten of dat in jouw toepassing voorkomt. Ik weet ook niet hoe snel zeners zijn in reageren op spanningen, daar heb ik ook nooit informatie over opgezocht. Ik vermoed dat het een irrelevant effect is.
Op 20 oktober 2015 21:24:09 schreef fcapri:
ziet mijn oog een wankelmotor?
Verhip, het mijne wel in elk geval.
Groet,
Kruimel