Ik zou gewoon eerst eens meten wat je belangrijk vindt. En als ik het goed begrijp is dat de capaciteit.
2 van die stukjes trace is in theorie een transmissie lijn maar in de praktijk is het gedrag waarschijnlijk niet echt de moeite waard.
Welke capaciteit is van belang ? Van trace naar trace of van trace naar de layer(s) er onder ?. En hoe groot mag de variatie zijn.
De eerste is volgens mij niet zo heel erg afhankelijk van het PCB materiaal. Wat daar het meeste invloed zal hebben is de dielectrische constante van het silkscreen en/of de potting. Dat vult de ruimte tussen de twee traces op.
Verder het rand effect als de koper dikte van de rand dankzij etsen niet uniform is.
Er is ooit een topic geweest over het meten aan spoelen/ afgestemde kringen van pcb materiaal (van Blackfin ? had wat met MRI te maken dacht ik)
Ik begrijp dat je nu een werkende hebt, wat ik zou doen is met een brug de waarde meten. Wat de echte waarde is, is waarschijnlijk niet eens van belang als de meting maar eenvoudig te herhalen is met een zelfde resultaat. Dat zou dus met een zelfbouw brugje kunnen zijn.
Ik heb voor een klant een licht-doorlaat meter gebouwd. De echte waarde was niet van belang. Ze stellen het ding in op 100% door het licht compleet tegen te houden. Dan meten een referentie sample (zeg maar de calibratie standaard) welke bv op "85" blijkt uitkomen. Wat 85 is ? maakt niet uit, dat is de meetwaarde voor een goed sample.
Optimaal zou een impedantie analyser zijn. Een VNA is goed voor metingen rondom 50 ohm aan transmissielijnen. Een impedantie analyser is een soort sweepende LCR meter en werkt met IV metingen. Deze zijn perfect voor dit soort werk.
Ik kan met aF resolutie meten maar alleen tussen 100 Hz en 20 kHz.
Ik heb zelf een setje capaciteit standaards gemaakt van PCB. Dat was toen ik een fF meter aan het bouwen was. Daarvan weet ik dat de dielectrische constante van FR4 erg wispelturig is (vocht en samenstelling van het spul , ik denk ook de verhouding fibermat en epoxy omdat beide verschillende eigenschappen hebben.