Ha saturnus,
Ja zeker waarom niet alleen is het zo dat het een zich iets gemakkelijker leent voor R.F. en microgolven dan voor laagfrequent !
De elementen en componenten en apparaten van de elektrische systemen worden ingedeeld in samengevoegde ( lumped ) of gedistribueerde systemen.
Het verschil zit hem in het volgende in de geconcentreerde elementen beschouwen we dat ze geconcentreerd zijn in de ruimte en dan,
spreekt men over stroom erin en de spanning erover.
In het geval van gedistribueerde elementen zoals transmissielijnen waar het fysiek lange afstanden kan overbruggen,
kan men er niet van uitgaan dat het geconcentreerd is in de ruimte, maar men moet de distributie ervan overwegen, anders krijgt men valse stroom- en spanningsresultaten.
Omdat het domein een andere is kan je voorstellen dat de meetmethode ook anders is !
Die S.W.R. meet systemen zijn een indicatie binnen welk gebied de impedantie van de belasting zich bevind .
Definitie Reflectie coëfficiënt, r = [ZL - Z0]/[ ZL + Z0]
Voor laagfrequent zeg tot 10 kHz kan je gebruik maken van de I / V meetmethode je meet de impedantie op een andere manier dan bij hoogfrequent.
Welk vermogen wil je meten en met welke resolutie ?
Waar ga je het voor toepassen ?
Groet,
Henk.